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半導体のためのPCTによって飽和させる湿気の老化の圧力試験の部屋

中国 ASLi (CHINA) TEST EQUIPMENT CO., LTD 認証
中国 ASLi (CHINA) TEST EQUIPMENT CO., LTD 認証
私達は ASLi の協同によって statisfied、長期協同始まることを望み。

—— Witold 氏

あなたの努力、それはをありがとう数日私達の計画されたテストに先んじる着きました。

—— デーブ氏

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半導体のためのPCTによって飽和させる湿気の老化の圧力試験の部屋

PCT Saturated Humidity Aging Pressure Test Chamber for Semiconductor
PCT Saturated Humidity Aging Pressure Test Chamber for Semiconductor

大画像 :  半導体のためのPCTによって飽和させる湿気の老化の圧力試験の部屋

商品の詳細:
起源の場所: 中国
ブランド名: ASLi
証明: CE ,ISO ,SGS
モデル番号: PCT-35
お支払配送条件:
最小注文数量: 1 セット
価格: Negotiation
パッケージの詳細: 標準的な輸出合板の箱
受渡し時間: 15~20 仕事日
支払条件: トン/ Tは、ウェスタンユニオン
供給の能力: 1 ヶ月あたりの 100sets
詳細製品概要
飽和蒸気の温度較差: 100℃~135℃ 湿気: 100%RH
圧力: 3 Kg/cm2 装置容量(L): 17~250
力: AC220v 材料: ステンレス鋼
内のり寸法: Dia. 350*D450 適用: 半導体
ハイライト:

圧力鍋テスト

,

HAST のテスト

 

 

PCTは半導体のための湿気の老化の圧力試験の部屋を飽和させた
 
 
適用:
PCTは多層サーキット ボード、ICのシーリング パッケージ、圧力への抵抗および前述のプロダクトのための空気堅さがテストすることができるLCDスクリーン、LED、半導体、磁気材料、NdFeB、希土類および磁石の鉄のための密封特性のテストを半導体のための湿気の老化の圧力試験の部屋を広く適用される飽和させた。
 
 
技術的な変数:
 

モデル PCT - 25 PCT - 35 PCT - 45 PCT - 55 PCT - 65
内のり寸法Φ×D (mm) 300×250 350×450 450×550 550×650 650×750
外のり寸法Φ×D (mm) 750×1200×800 800×1250×800 900×1380×900 1050×1550×1100 1200×1700×1250
飽和蒸気(実用温度)の温度較差

(飽和蒸気の温度較差:100℃~135℃)、
温度較差:120℃、100Kpa/133℃ 200 Kpa;(143℃は特別注文である)

相対的な圧力絶対圧

相対的な圧力:表示価値は圧力計で示した
絶対圧:価値加える圧力計(内部箱の実際の価値)で示される表示価値に基づいて100つKpaを

·温度、湿気、飽和蒸気の圧力の比較のテーブル 半導体のためのPCTによって飽和させる湿気の老化の圧力試験の部屋 0
飽和蒸気の湿気 100%RH飽和蒸気の湿気
蒸気圧力(絶対圧) 101.3Kpa +0.0Kg/cm2 | 2.0Kg/cm2;(3.0Kg/cm2は特別な標準である)
回帰的な装置 蒸気の自然な対流の循環
安全保護遺贈財産 水不足分の貯蔵、圧力に保護するため保護するため。(自動的に/手動水補充の自動的に排出圧力機能持ちなさい)
付属品 版2つの層のステンレス鋼の
装置容量(L) 17 43 87 155 250
AC 220V (±10%)、1∮ 3ライン、50/60HZ;

 
半導体のためのPCTによって飽和させる湿気の老化の圧力試験の部屋 1
 
PCTは半導体の特徴のための湿気の老化の圧力試験の部屋を飽和させた:
1. テストしている間水不足分の貯蔵に自動加える水機能および自動満ちる水。
2.終わるプロセスをテストする自動操作使いやすい。
3.温度調整:LEDのデジタル温度調節器は温度の設定、制御および表示の正確なテストをすることができる。
4.内部箱の温度が設定値に達した時LEDのデジタル タイマー、そして完全なテストを保障する時間への開始。
5.正確な圧力:温度の図表は内部箱の圧力および相対湿度を常に示す。
6.水装置は自動的に排出ない最もよい蒸気の質を達成するために飽和蒸気をである。
7。統合されたケイ酸のゲルのドアのガスケット、空気堅さは非常によく、長い操作の生命である。
8.The内部箱はミラー磨かれ、優美、そして非汚染である
 
 
参照のためのより多くの映像:
半導体のためのPCTによって飽和させる湿気の老化の圧力試験の部屋 2

連絡先の詳細
ASLi (CHINA) TEST EQUIPMENT CO., LTD

コンタクトパーソン: Lily Chen

電話番号: +8613543715035

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